應用低溫試驗箱時可根據(jù)GB 2424.1—《電工電子產品基本試驗環(huán)境試驗規(guī)程：高溫低溫試驗導則》的指導選定下列參數(shù)：
a.試驗箱內溫度變化的速率；
b.試驗樣品放入試驗箱的時間；
c.試驗樣品在試驗條件下曝露試驗開始時間；
d.試驗樣品通電或負載的時間。
 
  應用低溫試驗箱標準應對低溫試驗方法給出下列適用的細節(jié)：
a.預處理；
b.初始檢測；
c.安裝或支承的細節(jié)；
d.條件試驗期間試驗樣品（包括冷卻系統(tǒng)）的狀況；
e.嚴酷程度（溫度和試驗持續(xù)時間）；
f.條件試驗期間的測量和（或）負載；
g.恢復（如不是在標準條件下恢復）；
h.最后檢測；
i:供需雙方同意的對低溫試驗箱試驗程度的任何更改。